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SJ/T 11103-1996 寿命试验用表 {1+1/M}数值表

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 16:23:36  浏览:8340   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:寿命试验用表 {1+1/M}数值表
英文名称:Tables for life testing Tables for {1+1/M}
中标分类: 综合 >> 基础标准 >> 综合技术
ICS分类: 试验 >> 试验条件和规程综合
替代情况:原标准号GB/T 12282.5-1990
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1990-02-27
实施日期:1990-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1990-09-01
页数:4页
适用范围

原GB 12282.5-90

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所属分类: 综合 基础标准 综合技术 试验 试验条件和规程综合
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【英文标准名称】:Printedboards-Part1:Genericspecification(IEC62326-1:1996);GermanversionEN62326-1:1997
【原文标准名称】:印制电路板.第1部分:总规范
【标准号】:DINEN62326-1-1997
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1997-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;质量;印制电路;详细规范;能力鉴定;规范;规范;电子工程;结构;总规范;规则;指导手册;电气工程;认可;电子设备及元件;质量保证;检验;微电子学;标准;规范(验收);印制电路板
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_180
【页数】:19P;A4
【正文语种】:德语


基本信息
标准名称:碲中硅量的测定(正丁醇萃取硅钼蓝吸光光度法)
英文名称:Determination of silicon content in tellurium--n-butyl alcohol extraction silicon-molybdenum blue photometric method
中标分类: 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类: 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料化学分析
替代情况:原标准号GB/T 2147-1980;被YS/T 227.11-2010代替
发布日期:
实施日期:1996-03-12
首发日期:
作废日期:2011-03-01
出版日期:
页数:2页
适用范围

没有内容

前言

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引用标准

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所属分类: 冶金 金属化学分析方法 半金属及半导体材料分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料化学分析